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產(chǎn)品中心/ products
langer MV-Technik工具E1Langer EMV-Technik處于EMC領(lǐng)域的研究,開發(fā)和生產(chǎn)的前沿。通過EMC實(shí)驗(yàn)研討會和EMC研討會,我們?yōu)榭蛻籼峁┝巳娴闹R。
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langer MV-Technik工具E1
Langer EMV-Technik處于EMC領(lǐng)域的研究,開發(fā)和生產(chǎn)的前沿。通過EMC實(shí)驗(yàn)研討會和EMC研討會,我們?yōu)榭蛻籼峁┝巳娴闹R。
我們的 干擾發(fā)射 和 抗干擾性 EMC測量技術(shù)以及IC測試系統(tǒng)主要用于開發(fā)階段,并且在范圍內(nèi)都有需求。
產(chǎn)品展示
PCB抗擾度
測量系統(tǒng)和EMC工具,用于進(jìn)行組件和設(shè)備的抗擾性測試和分析
PCB發(fā)射
在開發(fā)階段用于組件和設(shè)備排放分析的測量系統(tǒng)和EMC工具
測量和校準(zhǔn)站
測量和校準(zhǔn)站用于校準(zhǔn)EMC測量儀器并確定連接器的EMC參數(shù)。
教學(xué)與培訓(xùn)測量技術(shù)
EMC實(shí)驗(yàn)的模型裝配
IC測量技術(shù)
借助IC(集成電路)測試系統(tǒng),開發(fā)人員可以在特定干擾(傳導(dǎo)和輻射)或其輻射期間測試電路的行為。該IC在運(yùn)行中經(jīng)過了測試。
E1是一組EMC工具,用于在開發(fā)階段抑制印刷電路板中的EMI。開發(fā)人員可以使用E1集快速識別突發(fā)和ESD干擾的原因。這使開發(fā)人員可以設(shè)計(jì)適當(dāng)?shù)拇胧﹣斫鉀Q干擾的原因。它也可以用來測試所采取措施的有效性。E1測試裝置很小,可輕松安裝在開發(fā)人員的桌子上。E1集用戶手冊介紹了EMC機(jī)制,并詳細(xì)描述了用于抑制印刷電路板中干擾的基本測量策略。E1集包括一個發(fā)生器,用于產(chǎn)生突發(fā)和ESD干擾。
供貨范圍
Langer EMV-Technik P1 set
Langer EMV-Technik P23 set
Langer EMV-Technik P11t set
Langer EMV-Technik P12t set
Langer EMV-Technik CAN 100 set
Langer EMV-Technik CAN 100 A01 set
LIN 100 set
BD 11
BD 06B
BD 01B
BD 01E
ESA1 set
HFW 21 set
Z23-1 set
Z23-2 set
NNB 21 set
PA 203 SMA套件
PA 303 BNC套件
PA 303 SMA套件
PA 303 N套
PA 306 SMA套
ICS 105
FLS 106 IC
Langer EMV-Technik FLS 106 PCB
Langer EMV-Technik SUH 106
Langer EMV-Technik LF1
Langer EMV-Technik MFA-K 0.1-12 set
Langer EMV-Technik A100-1 set
Langer EMV-Technik XF-R 100-1
迷你突發(fā)場發(fā)生器特別小。它們用于在開發(fā)階段識別和消除電子裝配中的薄弱環(huán)節(jié)。它們會在其產(chǎn)生脈沖串或ESD場。微型脈沖發(fā)生器用手在其被測設(shè)備(例如印刷電路板)上靠近其表面的方向上引導(dǎo)。弱點(diǎn)會響應(yīng)脈沖場,并且會發(fā)生故障。突發(fā)場發(fā)生器可以應(yīng)用于電路板設(shè)計(jì)的選定單個部分,以識別潛在的弱點(diǎn)(接地系統(tǒng)中的故障,單個走線或IC引腳)。分開的磁耦合(P11和P12)和電耦合(P21)允許針對相應(yīng)的弱點(diǎn)佳地調(diào)整EMC對策。
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