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您的位置:首頁  -  產(chǎn)品中心  -  工具系列  -  Dr.Kaiser修整工具  -  FLS 106 IClanger MV-Technik工具E1

langer MV-Technik工具E1

langer MV-Technik工具E1
Langer EMV-Technik處于EMC領(lǐng)域的研究,開發(fā)和生產(chǎn)的前沿。通過EMC實(shí)驗(yàn)研討會和EMC研討會,我們?yōu)榭蛻籼峁┝巳娴闹R。

  • 產(chǎn)品型號:FLS 106 IC
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-09-09
  • 訪  問  量:1794
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聯(lián)系電話:18513086679

產(chǎn)品詳情

langer MV-Technik工具E1

Langer EMV-Technik處于EMC領(lǐng)域的研究,開發(fā)和生產(chǎn)的前沿。通過EMC實(shí)驗(yàn)研討會和EMC研討會,我們?yōu)榭蛻籼峁┝巳娴闹R。

我們的 干擾發(fā)射 和 抗干擾性 EMC測量技術(shù)以及IC測試系統(tǒng)主要用于開發(fā)階段,并且在范圍內(nèi)都有需求。

產(chǎn)品展示

PCB抗擾度

測量系統(tǒng)和EMC工具,用于進(jìn)行組件和設(shè)備的抗擾性測試和分析

PCB發(fā)射

在開發(fā)階段用于組件和設(shè)備排放分析的測量系統(tǒng)和EMC工具

測量和校準(zhǔn)站

測量和校準(zhǔn)站用于校準(zhǔn)EMC測量儀器并確定連接器的EMC參數(shù)。

教學(xué)與培訓(xùn)測量技術(shù)

EMC實(shí)驗(yàn)的模型裝配

IC測量技術(shù)

借助IC(集成電路)測試系統(tǒng),開發(fā)人員可以在特定干擾(傳導(dǎo)和輻射)或其輻射期間測試電路的行為。該IC在運(yùn)行中經(jīng)過了測試。

 

E1是一組EMC工具,用于在開發(fā)階段抑制印刷電路板中的EMI。開發(fā)人員可以使用E1集快速識別突發(fā)和ESD干擾的原因。這使開發(fā)人員可以設(shè)計(jì)適當(dāng)?shù)拇胧﹣斫鉀Q干擾的原因。它也可以用來測試所采取措施的有效性。E1測試裝置很小,可輕松安裝在開發(fā)人員的桌子上。E1集用戶手冊介紹了EMC機(jī)制,并詳細(xì)描述了用于抑制印刷電路板中干擾的基本測量策略。E1集包括一個發(fā)生器,用于產(chǎn)生突發(fā)和ESD干擾。

供貨范圍

  • 1SGZ 21,脈沖發(fā)生器
  • 1S21,光學(xué)傳感器(10 Mbps
  • 1BS 02,磁場源
  • 1BS 04DB,磁場源
  • 1BS 05D,磁場源
  • 1BS 05DU,磁場源
  • 1ES 00,電場源
  • 1ES 01,電場源
  • 1ES 02,電場源
  • 1ES 05D,電場源
  • 1ES 08D,電場源
  • 1MS 02,磁場探頭
  • 1E1 acc,配件
  • 1NT FRI EU,電源裝置
  • 1E1案例,系統(tǒng)案例
  • 1E1 mE1設(shè)置用戶手冊

Langer EMV-Technik P1 set

Langer EMV-Technik P23 set

Langer EMV-Technik P11t set

Langer EMV-Technik P12t set

Langer EMV-Technik CAN 100 set

Langer EMV-Technik CAN 100 A01 set

LIN 100 set

BD 11

BD 06B

BD 01B

BD 01E

ESA1 set

HFW 21 set

Z23-1 set

Z23-2 set

NNB 21 set

PA 203 SMA套件

PA 303 BNC套件

PA 303 SMA套件

PA 303 N

PA 306 SMA

ICS 105

FLS 106 IC

Langer EMV-Technik FLS 106 PCB

Langer EMV-Technik SUH 106

Langer EMV-Technik LF1

Langer EMV-Technik MFA-K 0.1-12 set

Langer EMV-Technik A100-1 set

Langer EMV-Technik XF-R 100-1

迷你突發(fā)場發(fā)生器特別小。它們用于在開發(fā)階段識別和消除電子裝配中的薄弱環(huán)節(jié)。它們會在其產(chǎn)生脈沖串或ESD場。微型脈沖發(fā)生器用手在其被測設(shè)備(例如印刷電路板)上靠近其表面的方向上引導(dǎo)。弱點(diǎn)會響應(yīng)脈沖場,并且會發(fā)生故障。突發(fā)場發(fā)生器可以應(yīng)用于電路板設(shè)計(jì)的選定單個部分,以識別潛在的弱點(diǎn)(接地系統(tǒng)中的故障,單個走線或IC引腳)。分開的磁耦合(P11P12)和電耦合(P21)允許針對相應(yīng)的弱點(diǎn)佳地調(diào)整EMC對策。

供貨范圍

  • 1P11,迷你爆發(fā)場發(fā)生器(B
  • 1P12,迷你爆發(fā)場發(fā)生器(B
  • 1P21,迷你爆發(fā)場發(fā)生器(E
  • 1P1機(jī)殼,Mini Burst Field Generators機(jī)殼
  • 1P1 m,P1設(shè)置用戶手冊
  • langer MV-Technik工具E1

 

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    北京漢達(dá)森機(jī)械技術(shù)有限公司

  • 聯(lián)系電話:

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    北京順義區(qū)

  • 企業(yè)郵箱:

    sales8@handelsen.cn

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